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期刊文章详细信息

基于D_2样条插值和LOG算子的亚像素边缘检测    

Sub-pixel Edge Detection Based on Spline Interpolation of D_2 and LOG Operator

  

文献类型:期刊文章

作  者:李艳[1] 彭嘉雄[1]

机构地区:[1]华中理工大学图像识别与人工智能研究所

出  处:《华中理工大学学报》

基  金:北京大学视觉与听觉信息处理国家重点实验室基金

年  份:2000

卷  号:28

期  号:3

起止页码:77-79

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1996、CSCD、CSCD2011_2012、核心刊

摘  要:提出了一种基于 D2 样条插值和 LOG算子的亚像素边缘检测方法 .将被检测的图像块在 1 /2 p精度上行列分离分别进行一维 D2 样条插值 ,得到亚像素图像 ,然后将不同尺度的 LOG算子与之卷积 。

关 键 词:图像识别 边缘检测 亚像素 D2样条插值  LOG算子

分 类 号:TP391.41] TP751[计算机类]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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