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专利审查行为对技术创新的影响机理研究
Study on the impact mechanism of the patent examination behavior on technological innovation
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华中科技大学知识产权战略研究院,湖北武汉430074
基 金:国家自然科学基金资助项目(71003037);中国博士后科学基金(20100480895)
年 份:2012
卷 号:30
期 号:6
起止页码:848-855
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2011、CSSCI、CSSCI2012_2013、JST、NSSD、RCCSE、RDFYBKZL(收录号:506580)、RWSKHX、ZGKJHX、核心刊
摘 要:为了缓解越来越严峻的审查压力,各主要专利局近年来频繁对专利系统从审查行为的角度进行改革。本文对专利审查行为影响技术创新的机理从审查质量、审查周期和费用三个维度进行了系统分析,研究认为专利审查的犯错率过高、专利审查的周期过长、专利审查的费用标准过低,对技术创新可能产生阻碍效应。同时,专利审查系统内部存在审查质量与审查周期的相互影响关系,而在专利审查系统外部也存在专利审查行为与技术创新的循环影响关系。为此,本文提出我国专利局在缓解审查积压时,为了在保持审查系统内部平衡的基础上改善专利审查行为与技术创新间循环回路的运行效应,应尽快提高我国专利审查费用的标准和建立快速审查请求制度。
关 键 词:专利审查质量 专利审查周期 专利审查费用 技术创新
分 类 号:F403.7]
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