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期刊文章详细信息

LRL校准法及其在微波测量中的应用  ( EI收录)  

LRL Calibration Method and Its Application to Microwave Measurement

  

文献类型:期刊文章

作  者:廖进昆[1] 刘仁厚[2]

机构地区:[1]四川大学通信工程系,成都610065 [2]电子科技大学微波测试中心,成都610054

出  处:《电子科技大学学报》

年  份:2000

卷  号:29

期  号:2

起止页码:149-152

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2000095315844)、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘  要:讨论了微波器件的测量问题,阐明了LRL(Line-Reflect-Line)校准法的物理模型。应用微波网络理论建立了基本方程,运用矩阵方法推导出待测件散射参量的闭定式表达式。由于利用代数消去法,去除了嵌入参量相位不确定性引入的误差,LRL法可用于微波晶体管测试夹具的去嵌入。

关 键 词:微波测量 去嵌入 LRL校准法  微波器件

分 类 号:TM931]

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同被引文献:

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