期刊文章详细信息
基于单片机的双波长红外测温结构设计
Structural Design of Dual-wavelength Colorimeter Based on the Single Chip
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]华中科技大学机械科学与工程学院,武汉430074 [2]广东昭信半导体装备制造有限公司,佛山528200
基 金：2010年广东省重大科技专项(2010A080802006)
年 份：2012
卷 号：18
期 号：4
起止页码：57-62
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：为了解决双波长测温不同波长的变换和精确定位测量的问题,设计了一种基于单片机的变换结构,利用电机匀速反馈控制电路和单片机周期捕获功能,准确跟踪和定位采样位置。基于这种结构提出了一种双波长测温法的暗电流电压修正方法,大大提高了测量的精度。通过实验使用设计的测量结构拟合出双波长温度测量函数,测量精度在1℃之内。
关 键 词：双波长测温 波长变换结构 反馈控制 单片机 暗电流修正
分 类 号：TH811[仪器类]
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