文献类型：期刊文章

作　　者：艾延廷[1] 田晶[1] 高红池[2]

机构地区：[1]沈阳航空航天大学辽宁省航空推进系统先进测试技术重点实验室 [2]中国人民解放军75752部队71分队

出　　处：《中国机械工程》

基　　金：航空科学基金资助项目(2008ZB54006)

年　　份：2012

卷　　号：23

期　　号：10

起止页码：1161-1164

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：以装配质量损失最小为目标,采用信噪比衡量各质量指标对总体装配质量波动影响的权重,在Atiles-leon多元质量损失函数的基础上建立了基于信噪比的多元装配质量损失模型,采用遗传算法对该模型进行了优化求解,且求解精度高、收敛速度快。最后通过某一轴承组件装配实例验证了该方法的有效性。

关 键 词：多元质量损失  遗传算法 装配质量  信噪比

分 类 号：TH163]