文献类型：期刊文章

作　　者：陈迪钊[1] 崔卉[2]

机构地区：[1]怀化师范高等专科学校化学系,湖南怀化418008 [2]湖南大学分析测试中心,湖南长沙410008

出　　处：《色谱》

基　　金：湖南省教委青年骨干教师和怀化师范高等专科学校教授基金

年　　份：2000

卷　　号：18

期　　号：2

起止页码：100-103

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EMBASE、IC、JST、PROQUEST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：将正交投影分辨 (OPR)技术用于多波长色谱重叠峰分辨 ,当色谱峰中最大重叠度小于或等于波长数时 ,用这一方法能从多波长色谱重叠峰中获得完全真解。基于双波长色谱分析 ,提出了一种新的色谱重叠峰中背景校正、组分数和纯组分信号区确定以及各组分重叠情况的分析方法 ,即双波长特征信息分析 (DWCI)。该法被成功的用于三组分双峰和双组分单峰重叠色谱的分析。

关 键 词：多波长色谱  正交投影 重叠峰分辨  色谱分析

分 类 号：O657.7]