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期刊文章详细信息

β-FeSi_2/Si异质结的制备及性质研究  ( EI收录)  

Characterization and preparation of β-FeSi_2/Si hetero structure

  

文献类型:期刊文章

作  者:郑旭[1] 张晋敏[1] 熊锡成[1] 张立敏[1] 赵清壮[1] 谢泉[1]

机构地区:[1]贵州大学理学院新型光电子材料与技术研究所,贵州贵阳550025

出  处:《功能材料》

基  金:贵州省优秀科技人才省长基金资助项目(黔省专合字[2011]40号);贵州省国际合作资助项目(黔科合外G字[2009]700113);贵州大学引进人才资助项目(贵大人基合字[2009]002号);贵州省自然科学基金资助项目(黔科合J字[2008]2002);科技部国际合作专项资助项目(2008DFA52210);贵州省科技攻关资助项目(黔科合GY字(2011)3015);贵州省科技创新人才团队建设专项资金资助项目(黔科合人才团队(2011)4022);贵阳市科技局大学生创业资金资助项目([2010]筑科成大合同字4-1号03)

年  份:2012

卷  号:43

期  号:11

起止页码:1469-1471

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20123515381182)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用直流磁控溅射和真空退火方法制备β-FeSi2/Si异质结,首先在n型Si(100)衬底上沉积Fe膜,经真空退火形成β-FeSi2/Si异质结,Fe膜厚度约238nm,退火后形成的β-FeSi2薄膜厚度约为720nm。利用XRD、SEM和红外光谱仪分别研究了β-FeSi2薄膜的晶体结构、表面形貌和光学性质。霍尔效应结果表明,制备的β-FeSi2薄膜为n型导电,载流子浓度为9.51×1015cm-3,电子迁移率为380cm2/(V.s)。

关 键 词:磁控溅射 β-FeSi2/Si异质结  输运性质

分 类 号:TB34[材料类] TB303

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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