文献类型：期刊文章

作　　者：王洪新[1] 陈晓明[2] 王友法[1] 程东霁[3]

机构地区：[1]武汉理工大学生物材料与工程研究中心,湖北武汉430070 [2]广州医学院生物医学工程系,广东广州510182 [3]皖西学院机械与电子工程学院,安徽六安237012

出　　处：《功能材料》

基　　金：广东省科技攻关资助项目(2010B031100002)

年　　份：2012

卷　　号：43

期　　号：11

起止页码：1434-1437

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20123515381173)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用正硅酸乙酯(TEOS)水解法在羟基磷灰石粉体表面包覆SiO2进行表面改性,并通过扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、X射线衍射(XRD)、红外(FT-IR)、zeta电位和沉降实验等对样品的晶体结构、颗粒形貌进行了表征,结果表明涂层厚度约为3nm,包覆后的纳米粒子在水溶液中的胶体稳定性提高了5倍,SiO2在羟基磷灰石表面的吸附符合异质凝结机制。

关 键 词：羟基磷灰石 表面修饰 正硅酸乙酯 纳米粒子  

分 类 号：TN383]