登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

基于红外测温法的MOCVD工艺温度分析    

Analysis of MOCVD Process Temperature Based on Infrared Measurement

  

文献类型:期刊文章

作  者:关国坚[1] 甘志银[2]

机构地区:[1]华中科技大学机械科学与工程学院,湖北武汉430074 [2]广东昭信半导体装备制造有限公司,广东佛山528200

出  处:《计量与测试技术》

基  金:广东省重大科技专项(2010A080802006)

年  份:2012

卷  号:39

期  号:4

起止页码:18-19

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:为了得到MOCVD工艺生长过程中石墨盘的温度分布,提出了基于红外测温法的非接触无损测量方法,使用自主研发的双波长红外测量仪,能够得到石墨盘的径向和圆周温度分布情况,对MOCVD的加热炉结构改进和工艺过程控制有很大的指导意义。

关 键 词:红外测温法  温度场分布

分 类 号:TB43]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心