文献类型：期刊文章

作　　者：董裕[1] 李荣[1] 程介士[1]

机构地区：[1]上海医科大学针刺原理研究所

出　　处：《针刺研究》

基　　金：国家自然科学基金! (No.39730 5 10 )

年　　份：2000

卷　　号：25

期　　号：1

起止页码：8-13

语　　种：中文

收录情况：CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、PUBMED、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：采用暂时性脑缺血再灌注模型和组织化学、TUNEL细胞标记等实验技术 ,观察神经细胞死亡和一氧化氮合酶 (NitricOxideSynthase,NOS)水平的变化。实验结果表明 ,暂时性脑缺血再灌注时脑内NOS表达显著增加 ,且引起延迟性细胞死亡 ,包括坏死与凋亡。电针可明显减少神经细胞坏死 ,在存活细胞增多的基础上 ,TUNEL阳性细胞的比例有所增加 ;与此同时 ,电针亦使脑内NOS表达显著减弱。提示电针具有神经保护作用 ,且可能与其下调NOS。

关 键 词：脑缺血 针刺 一氧化氮合酶 神经细胞死亡

分 类 号：R743.31] R246.6[临床医学类]