文献类型：期刊文章

作　　者：刘恩峰[1] 熊绍珍[1] 赵颖[1] 谢伟良[1] 吴春亚[1] 周祯华[1] 胡景康1张文伟[2] 申金媛[2] 陈建胜[3] 张苑岳[3] 张丽珠[4]

机构地区：[1]南开大学光电子所,天津300071 [2]国家教育部光学信息技术科学开放研究实验室,天津300071 [3]中山大学电子机械研究中心,广州510275 [4]天津机电工业学校,天津300071

出　　处：《Journal of Semiconductors》

基　　金：国家自然科学基金!(项目号 :698760 2 2 )

年　　份：2000

卷　　号：21

期　　号：6

起止页码：580-585

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI(收录号：2001115501783)、IC、INSPEC、JST、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：研究了存在于聚合物发光二极管 ( PL ED)中的一种可逆的“负阻”现象及短期衰退行为 .当加在 PLED上的正向偏压大于 1 0 V之后 ,其电流和发光强度将在某偏压下出现突然的转折 ,即电流或光强骤增而器件上压降减小 .“负阻”现象将随测量次数的增加而逐渐消失 .采用 CCD摄像头摄取发光象素上发光的变化情况的图像 ,发现光强的突变与电流的突变是相对应的 .对以不同极性脉冲偏置观察发光光强的短期衰退情况时发现 ,反向偏置有助于抑制正向的发光衰退行为 .我们初步认为这些现象可能与

关 键 词：有机发光二极管 稳定行为  聚合物  

分 类 号：TN312.8]