文献类型：期刊文章

作　　者：DONATI Silvano[1] 王昭[2] 禹延光[3]

机构地区：[1]意大利帕维亚大学电子系,意大利伦巴第大区帕维亚27100 [2]西安交通大学机械工程学院,陕西西安710049 [3]澳大利亚伍伦贡大学电子、计算机及通讯工程学院,澳大利亚新南威尔士州伍伦贡2522

出　　处：《中国光学》

年　　份：2012

卷　　号：5

期　　号：2

起止页码：93-115

语　　种：中文

收录情况：AJ、CAS、CSA、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：回顾了一种全新结构的干涉仪—自混合干涉仪(SMI)的发展情况。SMI由于其在激光器外部无需任何光学元件且应用范围广泛而倍受关注。SMI可用于测量与光路长度有关的一些量(如位移、小幅度振动、速度),也可用于测量弱光的回波(即回波损耗和隔离因子的测量)并可表征与介质相互作用特性相关的物理参数(如激光线宽、相干长度以及α因子等)。SMI是一种相干探测方法,其工作在靠近接收场的量子极限处,目前对散射目标物的最小探测幅值可达槡20 pm/(Hz)～(1/2)甚至更高,使用角锥棱镜使其计数步长为半波长,在动态范围为2 m时其分辨率约为0.5μm。另外,SMI结构紧凑、易于现场安装且可用于MEMS测试、旋转机械振动测试和生物运行测试等各种实验。

关 键 词：自混合干涉术  光学仪器 曲线拟合  激光二极管

分 类 号：TH744.3] O436.1[仪器类]