登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

镀铝温度对渗铝层/基体界面空洞生长动力学的影响  ( EI收录)  

Effects of aluminizing temperature on the growth kinetics of voids along interface between aluminized layer and steel substrate

  

文献类型:期刊文章

作  者:张伟[1,2] 刘爱萍[1] 文九巴[3]

机构地区:[1]洛阳理工学院机电工程系,河南洛阳471023 [2]洛阳市先进材料成型技术重点实验室,河南洛阳471023 [3]河南科技大学材料科学与工程学院,河南洛阳471003

出  处:《材料热处理学报》

基  金:河南省科技计划项目(0624250037);河南省自然科学基金项目(082300440020)

年  份:2012

卷  号:33

期  号:4

起止页码:127-131

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20122415110815)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用不同的镀铝温度在20碳钢上制备了不同厚度的热浸镀铝层,通过测量热浸镀铝层厚度以及高温氧化后渗铝层/基体界面空洞平均直径和形核数量随氧化时间的变化,研究了镀铝温度对渗铝层/基体界面空洞生长的影响。结果表明:随镀铝温度升高,镀铝后的表面层厚度减小,合金层厚度增加;在高温氧化期间,渗铝层/基体界面空洞的生长速度随镀铝温度的升高而减小,其变化规律与热浸镀铝后表面层厚度随镀铝温度的变化规律相一致;界面空洞平均深度随镀铝温度升高而增加,其变化规律与热浸镀铝后合金层厚度随镀铝温度的变化规律相一致;界面空洞增量随氧化时间的延长先增加而后逐步减少,且镀铝温度越高,空洞形核速度越小。分析了镀铝温度对界面空洞生长的影响机制。

关 键 词:镀铝温度  渗铝层 基体  空洞  生长速度  

分 类 号:TG171]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心