文献类型：期刊文章

作　　者：刘颖[1] 郎治国[2] 唐文彦[3]

机构地区：[1]北京航天时代激光导航技术有限责任公司 [2]中国人民解放军61081部队 [3]哈尔滨工业大学自动化测试与控制系

出　　处：《红外与激光工程》

年　　份：2012

卷　　号：41

期　　号：3

起止页码：775-779

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号：20121915007928)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：以光切法测量原理为基础,采用CCD摄像头和传统光切显微镜,使用VC开发工具和图像处理技术开发了一套材料表面粗糙度测量系统。根据光切显微镜下材料表面粗糙度图像有明显方向性的特征,使用旋滤波方法对图像进行预处理,并与传统的几种滤波方法进行了比较,同时讨论了滤波窗口的大小和切线方向采用的滤波方法对粗糙度测量结果的影响。该测量系统能够测量新国标中的全部参数,并能进行在线测量。介绍了系统的标定方法,对影响测量精度的主要误差因素进行了分析,并对算术平均偏差Ra为3.2μm的标准粗糙度比较样块进行了测量,测得的结果是:Ra约等于2.93μm,相对误差约为-8.5%,低于该系统的示值允许误差。

关 键 词：表面粗糙度 光切法 测量  图像处理

分 类 号：TN247]