文献类型：期刊文章

作　　者：刘健鹏[1] 唐义[1] 黄刚[1] 张止戈[1] 倪国强[1]

机构地区：[1]北京理工大学光电学院光电成像技术与系统教育部重点实验室,北京100081

出　　处：《光学学报》

基　　金：国家863计划(2007AA12Z101);国家973计划(2009CB724005)资助课题

年　　份：2012

卷　　号：32

期　　号：3

起止页码：234-240

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20121514937615)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：像散是目前影响Czerny-Turner结构成像光谱仪空间分辨率最大的像差。首先引入柱面反射镜,利用光焦度衡量像散大小,推导出易于计算的像散校正公式,有效地校正了像散。给出准直镜到光栅距离的计算方法,有效校正了成像光谱仪边缘视场像差。给出了成像光谱仪像面倾角的计算方法,实现了宽波段的像差校正。最终利用上述方法设计了一套用于115～200nm的改进型Czerny-Turner成像光谱仪,焦距f′=48mm,F数为5.0,全视场、全波段调制传递函数(MTF)在0.7以上。全波段光谱分辨率为0.22nm,像面大小为8mm×7mm。设计方法适用于多种结构要求的成像光谱仪。

关 键 词：成像光谱仪 CZERNY Turner结构  柱面反射镜  远紫外  

分 类 号：O433.1] TH744.1]