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期刊文章详细信息

Stability Analysis of Contact Scanning Probe for Micro/Nano Coordinate Measuring Machine  ( EI收录)  

Stability Analysis of Contact Scanning Probe for Micro/Nano Coordinate Measuring Machine

  

文献类型:期刊文章

作  者:李瑞君[1,2] 范光照[1,3] 钱剑钊[1] 黄强先[1] 龚伟[1] 苗晋伟[1]

机构地区:[1]合肥工业大学仪器科学与光电工程学院,合肥230009 [2]安徽电气工程职业技术学院自动化与信息工程系,合肥230051 [3]台湾大学机械工程学系,台北10617

出  处:《纳米技术与精密工程》

基  金:国家高技术研究发展计划(863计划)资助项目(2008AA042409);国家自然科学基金资助项目(50875073);安徽省教育厅高等学校优秀青年人才基金资助项目(2011SQRL179).

年  份:2012

卷  号:10

期  号:2

起止页码:125-131

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号:20121614949833)、INSPEC、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

关 键 词:微纳米三坐标测量机  扫描探头  稳定性分析 传感哭喊中  

分 类 号:TP216]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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