文献类型：期刊文章

作　　者：杨倩[1,2] 黄宛真[1] 郑遗凡[1,2] 胡仙超[1] 王燕飞[1]

机构地区：[1]浙江工业大学分析测试中心,杭州310014 [2]浙江工业大学化学工程与材料学院,杭州310014

出　　处：《理化检验（物理分册）》

年　　份：2012

卷　　号：48

期　　号：2

起止页码：91-94

语　　种：中文

收录情况：CAS、JST、普通刊

摘　　要：以硅基底上生长的薄膜样品为例,详细介绍了一种新的制备透射电镜截面样品的方法和步骤,即先层叠矩形薄片成块状,然后用低速锯切割得到层叠截面薄片,再将截面薄片和一厚度相当的硅片同时粘贴在有机玻璃样品柱上,然后对样品进行研磨抛光,通过观察硅片的透光颜色确定样品的厚度,最后将样品从样品柱上取下,粘贴上铜片,切成圆片状,进行离子减薄,完成样品的制备。该方法通过手动研磨直接将截面样品预减薄到可以用离子减薄仪减薄的程度,在简化了制样过程的同时,还可以获得具有更多薄区的透射电镜截面样品。

关 键 词：透射电镜 制样方法  截面样品  

分 类 号：O657.99]