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期刊文章详细信息

常规扫描电子显微镜的特点和发展    

Characteristics and development of conventional scanning electron microscope

  

文献类型:期刊文章

作  者:干蜀毅[1]

机构地区:[1]合肥工业大学精密仪器系,合肥230009

出  处:《分析仪器》

年  份:2000

期  号:1

起止页码:51-53

语  种:中文

收录情况:CAS、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:介绍了常规扫描电子显微镜(SEM)的工作原理、缺陷及采取的改进措施。由此发展起来的环境扫描电子显微镜(FSEM)的性能已大幅度提高,其使用范围和领域大为扩展。

关 键 词:扫描电子显微镜 SEM ESEM

分 类 号:TH74]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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