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期刊文章详细信息

原位退火对磁控溅射制备的ZnS薄膜微结构和发光性能的影响  ( EI收录 SCI收录)  

Effects of in-situ annealing on the structure and photoluminescence of ZnS thin films prepared by RF sputtering

  

文献类型:期刊文章

作  者:石刚[1] 李亚军[2] 左少华[3] 江锦春[3] 胡古今[1,3] 褚君浩[1,3]

机构地区:[1]中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海200083 [2]中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,江苏苏州215125 [3]上海太阳能电池研究与发展中心,上海201201

出  处:《红外与毫米波学报》

基  金:国家自然科学基金项目(60821092);中国科学院知识创新重要方向性项目(07JC14058);上海市科委基础研究重点项目(08JC1420900)

年  份:2011

卷  号:30

期  号:6

起止页码:507-510

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EI(收录号:20120114659115)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCI(收录号:WOS:000298550700007)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000298550700007)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用射频磁控溅射技术在玻璃衬底上制备了系列ZnS薄膜,利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和荧光分光光度计研究了Ar气氛中300~500℃原位退火对薄膜微结构和发光性能的影响.结果表明,退火温度对ZnS薄膜的结晶性能和晶粒大小的影响不大,但会显著影响其发光特性.低温退火处理的薄膜的PL谱具有多个发光峰,而500℃退火的薄膜则表现为单一发光峰结构.PL谱的这种变化是由于退火引起ZnS薄膜中的缺陷种类和浓度变化所致.

关 键 词:ZNS薄膜 原位退火  光致发光 磁控溅射

分 类 号:O484.4]

参考文献:

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同被引文献:

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