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期刊文章详细信息

用C离子的弹性反冲法测固体中氢分布  ( EI收录)  

H DEPTH PROFILING IN SOLID BY ERD WITH C IONS

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘家瑞[1] 朱沛然[1] 封爱国[1] 李大万[2]

机构地区:[1]中国科学院物理研究所 [2]中央民族学院物理系

出  处:《原子能科学技术》

基  金:国家科学基金

年  份:1990

卷  号:24

期  号:3

起止页码:7-12

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX1992、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:文章介绍了用1.7MV小串列加速器提供的4—7MeV多电荷C离子,采用弹性反冲法(ERD)分析了α-Si:H中氢元素的深度分布。计算表明,近表面处的深度分辨率为15-30nm,可探测深度100—700nm。探讨了入射能量和散射几何条件的优化问题。比较了几种分析方法的测量结果。

关 键 词:小串列  加速器 氢 分布  弹性反冲法  

分 类 号:TL52]

参考文献:

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同被引文献:

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