期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]电子科技大学电子技术系
基 金:电子部预研基金
年 份:1995
卷 号:24
期 号:S1
起止页码:121-126
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、INSPEC、JST、MR、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:在阵列测向问题中,模型误差是新型体制实用化的主要障碍之一。模型误差的校正可分为已知校正源校正和自校正两种类型。本文在现有的理论基础上,提出了几种具有实用价值的方法,并讨论了这些方法在实际系统的应用,给出了系统实验结果。
关 键 词:测向 校正 一致性 互耦 实验模型 阵列
分 类 号:G642.3]
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