期刊文章详细信息
扫描电镜(SEM)在失效分析中的应用
Application of Scanning Electron Microscope in Failure Analysis
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上汽通用五菱汽车股份有限公司,广西柳州545007
年 份：2011
期 号：11
起止页码：142-144
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：失效分析是故障分析的重要方法,而扫描电镜为失效分析的重要手段,两者在工程领域有着广泛的应用,尤其是在断口分析中的应用。通过扫描电镜可以确定失效的形式和机理,对于确定故障的原因和制定措施起着关键作用。笔者通过工程具体的实例,结合失效分析理论,应用扫描电镜的分析,针对具体工程问题分析了原因,并制定了措施,着重介绍了扫描电镜在失效分析中的应用。
关 键 词：电镜扫描 失效分析 断口分析
分 类 号：TH744]
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