期刊文章详细信息
故障绝缘子的发热机理及其红外热像检测
Heating Mechanism and Infrared Thermography Detection of Failure Insulators
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]吉林化工学院理学院,吉林吉林132022 [2]吉林市朝鲜族中学校,吉林吉林132001
年 份：2011
期 号：5
起止页码：12-15
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、RCCSE、核心刊
摘 要：绝缘子故障主要指绝缘电阻劣化和表面污秽。在分析讨论引起绝缘子发热的电阻劣化和表面污秽机理基础上,利用绝缘子等值电路模型分析了绝缘子在电阻劣化和表面污秽时的发热规律以及实际运行绝缘子的热像特征。结果表明:低值、零值和污秽绝缘子的发热规律和热像特征具有明显的差异,故可用高分辨的红外热像仪来检测和分析实际运行中的绝缘子运行状态。
关 键 词：绝缘子故障 发热机理 热像特征 红外热像
分 类 号：TM216[材料类]
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