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期刊文章详细信息

滤纸薄样片-X射线荧光光谱法测定钨和锡    

Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA

  

文献类型:期刊文章

作  者:荆照政[1] 张博仪[1] 刘雪珍[1]

机构地区:[1]湖南省矿产测试利用研究所,长沙410007

出  处:《岩矿测试》

年  份:1990

卷  号:9

期  号:4

起止页码:272-273

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、GEOREFPREVIEWDATABASE、IC、RSC、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文用蜡环成形滤纸定量吸附由微量进样器分取的50μl试液,制成薄样进行X射线荧光光谱分析,实现了对样品中高含量WO_3、SnO_2的定量测定。被测组份的荧光强度与浓度在0—500μg/50μl范围内有良好线性关系。方法操作简单、制样速度快、成本低、稳定性好。

关 键 词:滤纸 X射线 荧光光谱法

分 类 号:P575.3]

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