文献类型：期刊文章

作　　者：田心宇[1,2,3] 张小林[3] 吴海涛[1,2] 姚英[1,2,4]

机构地区：[1]中国科学院西安授时中心 [2]中国科学院研究生院,陕西西安710600 [3]西北工业大学365所,陕西西安710065 [4]西安邮电学院电信系,陕西西安710061

出　　处：《计算机测量与控制》

基　　金：国家自然科学基金资助(60134010)

年　　份：2011

卷　　号：19

期　　号：9

起止页码：2064-2066

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT算法,可以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的,但高的虚警率是阻碍其广泛应用的一个重要原因;在对机载计算机BIT虚警原因进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT设计策略,并给出了算法流程图;提出了数字I/0通道、A/D、D/A通道、串行接口等关键部分的故障检测解决方案,经过实践证明该策略的测试覆盖率达90%以上,降低虚警率约35%,明显提高了机载计算机的可靠性及可维护性。

关 键 词：BIT 机载计算机 可靠性 可维护性

分 类 号：TH873.7[仪器类]