文献类型：期刊文章

作　　者：范雪[1,2] 李平[1,2] 李威[1,2] 杨志明[2] 张斌[1] 郭红霞[3] 姚志斌[3]

机构地区：[1]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054 [2]成都华微电子科技有限公司,成都610041 [3]西北核技术研究所,西安710024

出　　处：《强激光与粒子束》

年　　份：2011

卷　　号：23

期　　号：8

起止页码：2229-2233

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20114114415397)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：对10万门基于静态随机存储器的现场可编程门阵列(FPGA)分别在锎-252(252 Cf)源和HI-13串列加速器下进行了单粒子效应试验研究,测试了静态单粒子翻转截面及发生单粒子闩锁的线性能量转移阈值,并对试验结果进行了等效性分析比较。试验结果表明:252 Cf源引起的FPGA单粒子翻转截面比重离子加速器引起的约低1个数量级;使用252 Cf源未能观测到该器件的单粒子闩锁现象,而使用重离子加速器可以测出该FPGA发生单粒子闩锁的线性能量转移阈值;在现代集成电路的宇航辐射效应地面模拟单粒子效应试验中,252 Cf源不是理想的测试单粒子闩锁的辐射源。

关 键 词：现场可编程门阵列 单粒子效应 252Cf源  重离子加速器 线性能量转移阈值  

分 类 号：O472] TN386.1[物理学类]