文献类型：期刊文章

作　　者：王帅[1]

机构地区：[1]湖南怀化学院物理与信息工程系,湖南怀化418008

出　　处：《现代电子技术》

年　　份：2011

卷　　号：34

期　　号：18

起止页码：158-160

语　　种：中文

收录情况：IC、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能。设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信。实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具。

关 键 词：集成电路测试 LABVIEW SN754410  USB/串口转换电路  

分 类 号：TP273]