期刊文章详细信息
利用牛顿环干涉条纹测定薄膜厚度
The Measurement of Film Thickness Using Interfered Stripe of Newton Ring
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]喀什师范学院物理系,新疆喀什844006
基 金：喀什师范学院校内课题
年 份：2011
卷 号：30
期 号：4
起止页码：46-49
语 种：中文
收录情况：NSSD、普通刊
摘 要：牛顿环实验是大学物理实验中的一个基本实验,目前的实验只是用于测透镜曲率半径。本文对牛顿环实验进行拓展,根据实验原理推导出两个用于测定薄膜厚度的理论公式,并对公式进行了理论分析。
关 键 词：牛顿环 薄膜厚度 干涉条纹
分 类 号：O436.1]
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