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温梯法生长φ110mm×80mm蓝宝石晶体位错的化学腐蚀形貌分析 ( EI收录)
THE CHEMICAL ETCHING DISLOCATION TOPOGRAPHES ANALYSIS OF Al_2O_3 SAPPHIRE (φ110 mm×80 mm) GROWN BY TGT
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国科学院上海光学精密机械研究所 [2]美国加州理工学院
基 金:"863"计划新材料领域资助!项目;编号:Z35 -1B.
年 份:1999
卷 号:27
期 号:6
起止页码:727-733
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:利用导向籽晶温度梯度法(TGT) 生长了110 m m ×80 m m 的蓝宝石单晶,应用化学腐蚀、光学方法分析了该晶体不同部位、不同切片的位错腐蚀形貌、位错密度及其分布情况,发现在晶体放肩处的(1120) 面位错密度约为104 cm - 2 量级,等径生长过程中靠近晶体中心处(0001) 面位错密度为(3 ~4) ×103cm -2 ,靠近坩埚壁处(0001) 面晶体位错密度为(5 ~6) ×103cm -2 . 用同样方法分析了提拉法(Cz) 生长的50 mm ×80 m m 蓝宝石晶体的位错. 相比而言,TGT法生长的Al2O3 位错密度比Cz 法的Al2O3 晶体低得多,约低一个数量级,TGT 法可以生长大尺寸、高完整性的Al2O3 晶体,这与TGT 法的特殊生长工艺有密切关系.
关 键 词:温度梯度法 氧化铝 位错 腐蚀坑 晶体生长 晶体
分 类 号:O772] O614.31
参考文献:
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引证文献:
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