文献类型：期刊文章

作　　者：田心宇[1,2] 张小林[1] 吴海涛[2] 姚英[2,3]

机构地区：[1]西北工业大学365所,陕西西安710072 [2]中国科学院西安授时中心,陕西西安710600 [3]西安邮电学院电信系,陕西西安710121

出　　处：《西北工业大学学报》

基　　金：国家自然科学基金(60134010)资助

年　　份：2011

卷　　号：29

期　　号：3

起止页码：400-404

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EBSCO、EI(收录号：20113114207575)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT电路,配合专门的BIT软件,以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的。但是较高的虚警率一直是阻碍BIT技术在机载计算机中广泛应用的一个重要原因。文章在对机载计算机BIT虚警机理模式进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT虚警问题的分析方法,并给出BIT设计策略及关键技术解决方案。经过实例分析证明该策略明显降低了虚警率,提高了机载计算机的可靠性及可维护性。

关 键 词：BIT 机载计算机 可靠性 可维护性

分 类 号：TN929.5]