文献类型：期刊文章

作　　者：徐军[1] 郭娟丽[1]

机构地区：[1]北京医科大学口腔医学院,100081

出　　处：《中华口腔医学杂志》

年　　份：1999

卷　　号：34

期　　号：5

起止页码：264-266

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、PUBMED、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：目的　分析国产Ni Cr合金在烤瓷烧结条件下所生成的金属氧化膜的性能 ,探讨颈部灰线的成因。方法　应用X射线衍射法与电子扫描法对国产Ni Cr合金铸件经烤瓷烧结后 ,表面氧化膜的物相以及氧化膜与基体合金的成分进行分析 ;同时 ,应用俄歇电子能谱对经烤瓷烧结后与未经烤瓷烧结的铸件表面氧化膜的厚度、各元素变化趋势进行了分析研究。结果　经烧结后的铸件表面氧化膜中主要有Cr2 O3、NiCr2 O4、SiO2 等氧化物及合金固溶体γ相 ;氧化膜中较基体合金中Cr、Si含量高 ,而Ni含量低 ;经烤瓷烧结后氧化膜的厚度为未经烧结者的 2 5倍。结论　烤瓷后Ni Cr合金表面生成的中厚氧化膜并不完整。

关 键 词：金属烤瓷 修复体 镍铬烤瓷合金 金属氧化膜  

分 类 号：R783.2[口腔医学类]