期刊文章详细信息
以W为中间层的C/W多层膜的微观结构及性能研究 ( EI收录)
Investigation of Microstructure and Performance of C/W Multilayer Coatings with W Interlayer
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]西安理工大学现代分析测试中心,西安710048 [2]西安理工大学材料科学与工程学院,西安710048
基 金:国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2009CB724406)
年 份:2011
卷 号:39
期 号:4
起止页码:33-37
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EI(收录号:20112314043403)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:利用非平衡磁控溅射技术在钢基体上制备以W为中间层的C/W多层膜,使用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和透射电子显微镜(TEM)对镀层的表面形貌,相组成及截面微观结构进行分析;测试镀层的膜基结合强度和摩擦性能。结果表明:C/W多层膜是由非晶碳和WC纳米晶组成的复合镀层,具有明显的层状结构,周期厚度为6.5nm;镀层具有良好的减摩性能,摩擦因数随偏压的增大而降低,-90V偏压条件下沉积的镀层具有最低的摩擦因数(0.14);镀层的膜基结合强度较差,W中间层的厚度为500nm,W中间层中存在较高的压应力,没有起到强化膜基结合强度的作用。
关 键 词:磁控溅射 C/W多层膜 微观结构 结合强度 摩擦性能
分 类 号:TG174] TB43]
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