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期刊文章详细信息

以W为中间层的C/W多层膜的微观结构及性能研究  ( EI收录)  

Investigation of Microstructure and Performance of C/W Multilayer Coatings with W Interlayer

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈迪春[1] 蒋百灵[2] 时惠英[2] 付杨洪[2]

机构地区:[1]西安理工大学现代分析测试中心,西安710048 [2]西安理工大学材料科学与工程学院,西安710048

出  处:《材料工程》

基  金:国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2009CB724406)

年  份:2011

卷  号:39

期  号:4

起止页码:33-37

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EI(收录号:20112314043403)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:利用非平衡磁控溅射技术在钢基体上制备以W为中间层的C/W多层膜,使用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)和透射电子显微镜(TEM)对镀层的表面形貌,相组成及截面微观结构进行分析;测试镀层的膜基结合强度和摩擦性能。结果表明:C/W多层膜是由非晶碳和WC纳米晶组成的复合镀层,具有明显的层状结构,周期厚度为6.5nm;镀层具有良好的减摩性能,摩擦因数随偏压的增大而降低,-90V偏压条件下沉积的镀层具有最低的摩擦因数(0.14);镀层的膜基结合强度较差,W中间层的厚度为500nm,W中间层中存在较高的压应力,没有起到强化膜基结合强度的作用。

关 键 词:磁控溅射 C/W多层膜  微观结构 结合强度  摩擦性能  

分 类 号:TG174] TB43]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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