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期刊文章详细信息

新型半导体薄膜材料的制备、结构和特性研究  ( EI收录)  

Preparations, Microstructures and Properties of Novel Semiconductor Thin Films

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈光华[1,2]

机构地区:[1]兰州大学电子材料研究所 [2]北京工业大学应用物理系,北京100022

出  处:《兰州大学学报(自然科学版)》

基  金:国家自然科学基金

年  份:1999

卷  号:35

期  号:3

起止页码:22-26

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2000045119199)、JST、MR、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘  要:主要介绍了研究所近20 年来在新型薄膜半导体材料的制备、结构及特性研究方面所取得的成就,尤其是对非晶硅碳和非晶硅锗( a  Si C∶ H 和a  Si Ge∶ H)薄膜、金刚石和类金刚石薄膜、立方氮化硼( c  B N)薄膜、β C3 N4 薄膜和富勒烯薄膜的研究工作取得了重要成果,不少工作已达到国际先进水平,发表论文300

关 键 词:半导体薄膜 立方氮化硼薄膜 非晶硅 制备  结构  

分 类 号:TN304.055] O484.1]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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