期刊文章详细信息
新型半导体薄膜材料的制备、结构和特性研究 ( EI收录)
Preparations, Microstructures and Properties of Novel Semiconductor Thin Films
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]兰州大学电子材料研究所 [2]北京工业大学应用物理系,北京100022
基 金:国家自然科学基金
年 份:1999
卷 号:35
期 号:3
起止页码:22-26
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:2000045119199)、JST、MR、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊
摘 要:主要介绍了研究所近20 年来在新型薄膜半导体材料的制备、结构及特性研究方面所取得的成就,尤其是对非晶硅碳和非晶硅锗( a Si C∶ H 和a Si Ge∶ H)薄膜、金刚石和类金刚石薄膜、立方氮化硼( c B N)薄膜、β C3 N4 薄膜和富勒烯薄膜的研究工作取得了重要成果,不少工作已达到国际先进水平,发表论文300
关 键 词:半导体薄膜 立方氮化硼薄膜 非晶硅 制备 结构
分 类 号:TN304.055] O484.1]
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