文献类型：期刊文章

作　　者：郝佳[1,2] 张丽[1,2] 陈志强[1,2] 邢宇翔[1,2] 康克军[1,2]

机构地区：[1]清华大学工程物理系,北京100084 [2]清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京100084

出　　处：《CT理论与应用研究（中英文）》

年　　份：2011

卷　　号：20

期　　号：1

起止页码：141-150

语　　种：中文

收录情况：JST、PUBMED、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：随着探测器技术的不断发展,具有能谱分辨能力的光子计数探测器成为人们研究的焦点,并在X射线成像领域开始得到应用。使用该种探测器,可以将具有较宽能谱分布的X射线分为不同的能区分别进行计数,获得详细的能谱信息及不同能量射线的衰减信息,由此引出了"多能谱成像"的概念。本文介绍了近些年来光子计数探测器技术的发展及其在X射线成像中的应用,同时分析了多能谱技术应用于CT成像所带来的一些优势,如降低辐射剂量、提高信噪比、提高物质识别精度、提高造影剂成像效果等。目前,许多研究机构都致力于研究更快速的电子学设备,以适应高计数率下快速成像的需求,随着多能谱成像技术研究的不断深入,必将为X射线成像及CT领域带来许多新的变革。

关 键 词：光子计数探测器  X射线成像  计算机断层扫描 多能谱技术  

分 类 号：TP391.41]