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集成电路老化测试插座的结构形式
Structured Configuratious for IC Burn-In Sockets
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十研究所,安徽蚌埠233000
年 份：2011
卷 号：18
期 号：5
起止页码：45-48
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。
关 键 词：集成电路 老化测试 插座 表面贴装 封装
分 类 号：TN405]
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