期刊文章详细信息
半导体器件的预辐射技术
The Technique of Pre-radiation for Semiconductor Devices
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]四川固体电路研究所
年 份：1990
卷 号：20
期 号：3
起止页码：8-12
语 种：中文
收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要：本文介绍一种半导体器件预辐射技术,这种技术可将半导体器件的辐射损伤消除,使器件的性能参数恢复到辐射前的水平。这种技术被应用于半导体器件加固保证的筛选和被辐射器件性能衰降的精确预测,是加固半导体器件研制生产中的一种早期技术,但目前也有现实意义。
关 键 词：半导体器件 预辐射技术 生产工艺
分 类 号：TN305]
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