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期刊文章详细信息

深入剖析眼图及高速串行设计中的眼图测试    

  

文献类型:期刊文章

机构地区:[1]泰克科技(中国)有限公司

出  处:《国外电子测量技术》

年  份:2011

卷  号:30

期  号:4

起止页码:1-6

语  种:中文

收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:0引言本文介绍了什么是眼图,眼图是如何构建的,以及生成眼图的常用触发方式。然后描述了使用不同的方式切割眼图,可以获得更多深入的信息。同时还讨论了一些发射机、传输链路和接收机测试的基本方法。本文的目的是为了工程师掌握眼图这个新领域的基本概念。

关 键 词:眼图测试  串行设计 触发方式 传输链路 发射机 接收机 工程师  

分 类 号:TN344]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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