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期刊文章详细信息

电子装备通用自动测试系统发展及其关键技术    

Development and key technology in general purpose automatic test system

  

文献类型:期刊文章

作  者:赵强[1] 刘松风[2] 程鹏[3]

机构地区:[1]海军工程大学电子工程学院,湖北武汉430033 [2]海军装备技术研究所,北京102442 [3]海军工程大学现代教育技术中心,湖北武汉430033

出  处:《电子设计工程》

年  份:2011

卷  号:19

期  号:9

起止页码:160-162

语  种:中文

收录情况:RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:随着现代电子测试技术、微电子技术、计算机技术的发展,自动测试系统也随着复杂电子装备的需求而不断发展,通用自动测试系统是自动测试系统今后发展的必然方向。简要介绍了自动测试系统的发展概况,通过对通用自动测试系统特点的分析,提出了"架构层"、"语法层"和"语义层"通用自动测试系统的概念,并讨论了涉及下一代通用自动测试系统的关键技术及应用方向,为通用自动测试系统的研究指明了方向。

关 键 词:通用自动测试系统 架构层  语法层  语义层

分 类 号:TP271.5]

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同被引文献:

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