文献类型：期刊文章

作　　者：马德华[1] 庞金安[1] 霍振荣[1] 李淑菊[1]

机构地区：[1]天津市黄瓜研究所,天津300192

出　　处：《中国农业科学》

基　　金：国家"九五"科技攻关资助

年　　份：1999

卷　　号：32

期　　号：5

起止页码：28-35

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CAB、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、FSTA、GEOBASE、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZR、核心刊

摘　　要：研究和比较了黄瓜幼苗对温度逆境的抗性。耐低温能力较强的自交系耐高温能力亦较强；而耐低温能力较差的自交系耐高温能力也较差，说明部分品种的黄瓜幼苗对不同温度逆境抗性之间存在一定的相关性。高温和低温对黄瓜种子的发芽能力影响不同，低温对发芽率的影响不大，仅延缓了发芽的速度；高温显著降低抗性较弱品系的发芽率。温度逆境胁迫使叶绿素含量明显降低，而且以叶绿素ａ 下降为主。温度逆境胁迫后，Ｇｓ 下降，但Ｌｓ 显著降低，ＡＱＥ和ＣＥ降低，Ｃｉ上升，说明叶片的光合机制遭到了明显破坏，非气孔因素是Ｐｎ 降低的主要原因。结果表明，黄瓜幼苗对不同温度逆境在某些抗性方面存在一定的相关性，其机理尚待进一步探讨。

关 键 词：黄瓜 幼苗  温度逆境 抗性 发芽 光合作用

分 类 号：S642.2]