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期刊文章详细信息

Sn基焊料/Cu界面IMC形成机理的研究进展    

Progress of study on formation mechanism of IMC at the interface between the Sn-based solder and Cu substrate

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘雪华[1,2] 唐电[1]

机构地区:[1]福州大学材料研究所,福建福州350000 [2]福建工程学院材料科学与工程系,福建福州350000

出  处:《电子元件与材料》

基  金:国家"863"资助项目(No.2007AA03Z325);福建省发改委"发明创造"专项资助项目

年  份:2011

卷  号:30

期  号:5

起止页码:72-76

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:锡基无铅焊料和Cu基材界面间容易形成Cu6Sn5、Cu3Sn及其他金属间化合物(IMC),而IMC将剧烈地影响焊接接头的性能,故对其的研究有助于了解IMC形成的本质,从而控制其形成和长大,以改善接头性能。综述了近期的研究结果,指出Cu6Sn5易形成扇贝状,而Cu3Sn常常为薄层状;其形成过程在固–固界面和固–液(焊料)界面上具有不同特点。热力学分析指出,IMC形成受扩散控制,不同的合金元素可改变IMC的形成驱动力△ G,对其形成和生长有不同的影响。无铅焊料与传统Pb-Sn焊料相比,更易产生IMC,也更易导致接头早期失效。

关 键 词:Sn基无铅焊料  金属间化合物 综述  可靠性

分 类 号:TM277[材料类]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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