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电压门控钠通道与背根神经元伤害性传入
Voltage gated Na^+ Channel in Nociceptive Afferents of DRG Neurons
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国科学院上海生理研究所,上海生命科学研究中心上海200031
基 金：国家杰出青年基金
年 份：1999
卷 号：30
期 号：3
起止页码：198-202
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、PUBMED、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：背根神经节 (DRG)神经元伤害性传入涉及到多层面复杂的神经递质与其相关靶受体的分子参与和调控。本文侧重结合DRG神经元中钠电流的表达分布规律 ,简要地论及了电压门控钠通道与DRG神经元伤害性感觉传入及其调制的一些关系。
关 键 词：电压门控钠通道 背根神经元 伤害性感觉传入
分 类 号：R338.1]
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