文献类型：期刊文章

作　　者：唐颖[1] 黄河[2]

机构地区：[1]成都理工大学信息工程学院电子信息工程系,四川成都610059 [2]东华理工大学长江学院信息工程系,江西南昌330013

出　　处：《仪表技术与传感器》

基　　金：成都理工大学青年科学基金资助项目(2009QJ28)

年　　份：2010

期　　号：7

起止页码：37-38

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：主要介绍了基于CPLD技术设计了新型数字集成芯片检测仪的设计,采用ARM控制芯片LPC2136完成端口检测状态和上位机测试矢量的收集,通过USB接口与上位机通信,在线或离线对常用数字集成芯片的型号做识别、故障分析和定位。该系统扩展性强,既可对未知型号芯片进行检测,也可对逻辑电平进行检测,应用灵活而广泛。

关 键 词：集成电路 状态检测  ARM 芯片检测 接口扩展

分 类 号：TN707]