期刊文章详细信息
逻辑电路冒险现象及其逻辑代数判断法
A Logical Circuit Risk and the Logical Algebra Judgement Method
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]黑龙江矿业学院自动化工程系 [2]计算中心
年 份：1999
卷 号：9
期 号：3
起止页码：31-34
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：针对逻辑电路中的冒险现象及其对电路的不良影响，利用波形图，分析并证明了判断逻辑电路冒险现象的逻辑代数法，从而降低了其问题的难度，使之更容易被理解与掌握。
关 键 词：电路 过渡过程 冒险现象 逻辑电路 逻辑代数判断
分 类 号：TN791]
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