文献类型：期刊文章

作　　者：刘恒彪[1] 周亚杰[1] 王昌灵[1]

机构地区：[1]同济大学理学部,上海200092

出　　处：《光学学报》

基　　金：教育部留学回国人员科研启动基金(教外司留[2005]383号)资助课题

年　　份：2011

卷　　号：31

期　　号：4

起止页码：125-131

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20112013990638)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：在物面系综平均双波长散斑相关法基础上,提出了双波长数字散斑相关方法测量表面粗糙度;模拟研究了双波长散斑场空间相关参数及在两单波长散斑图像中样本子区与目标子区的位置关系;实验探讨了数字图像处理的窗口尺寸对空间相关峰值的影响;对平磨和抛喷丸表面样块的粗糙度测量实验表明,双波长散斑场空间相关参数能有效表征表面粗糙度。新的测量方法具有数据采集速度快、表征参数稳定性好的特点。

关 键 词：测量  表面粗糙度测量 双波长数字散斑相关  散斑角度扩散  

分 类 号：TH741]