期刊文章详细信息
电磁脉冲对半导体器件的电流模式破坏 ( EI收录)
THE CURRENT MODE DESTROY OF SEMICONDUCTOR DEVICES BY ELECTROMAGNETIC PULSE
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]常德师范学院电磁理论研究所 [2]西北核技术研究所
基 金：国家863激光技术领域资助课题
年 份：1999
卷 号：11
期 号：3
起止页码：355-358
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：利用时域有限差分（ＦＤＴＤ）方法，对电磁脉冲引起半导体器件的毁坏过程进行了数值模拟，得到了无负载半导体ｐｎ结器件在快前沿（ｎｓ量级）电磁脉冲作用下的瞬态行为。
关 键 词：电磁脉冲 半导体器件 电流模式 时域有限差分
分 类 号：TN306]
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