期刊文章详细信息
电流密度对微弧氧化热损耗和膜层致密性的影响
Factors Influencing the Heat Wastage Efficiency and Density of Micro-arc Oxidation
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]兰州理工大学继续教育学院,兰州730050 [2]兰州理工大学理学院,兰州730050
年 份：2011
卷 号：32
期 号：3
起止页码：197-199
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：在硅酸盐电解液体系中对AZ91D镁合金进行微弧氧化试验，考察了不同电流密度（3、6、9、12、15A／dm^2）对溶液温度变化量、热损耗和膜层致密性的影响。结果表明，随电流密度的增加，体系温度变化量从18℃持续增加到33℃；体系热损耗先减小后增大；膜层的致密度先增太后减小。
关 键 词：微弧氧化 镁合金 温度变化量 热损耗率 致密度
分 类 号：TG174]
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