期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]《电子工业专用设备》编辑部
年 份:2011
卷 号:40
期 号:3
起止页码:10-16
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:对于堆叠器件的3-D封装领域而言,硅通孔技术(TSV)是一种新兴的技术解决方案。将器件3D层叠和互连可以进一步加快产品的时钟频率、降低能耗和提高集成度。为了在容许的成本范围内跟上摩尔定律的步伐,在主流器件设计和生产过程中采用三维互联技术将会成为必然。介绍了TSV技术的潜在优势,和制约该技术发展的一些不利因素及业界新的举措。根据TSV技术的市场前景,给出了当前设备行业发展硅通孔技术新的动向。
关 键 词:3D封装 系统集成 硅通孔技术 技术现状 市场前景 设备动向
分 类 号:TN405]
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