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期刊文章详细信息

嵌入式系统测试的发展    

Development of Embedded System Testing

  

文献类型:期刊文章

作  者:张建伟[1] 叶东升[1]

机构地区:[1]航天软件评测中心,北京100854

出  处:《单片机与嵌入式系统应用》

年  份:2011

卷  号:11

期  号:2

起止页码:5-7

语  种:中文

收录情况:ZGKJHX、普通刊

摘  要:目前,我国的嵌入式系统测试技术处于起步时期的快速发展阶段,本土厂商自主研发的产品拥有良好的应用前景。本文围绕嵌入式系统测试的概念、应用领域和国内发展状况进行了综合阐述。

关 键 词:嵌入式系统测试  软件测试 故障注入  

分 类 号:TP311.52]

参考文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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