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期刊文章详细信息

脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究  ( EI收录)  

Mechanism Research of Pulsed-Laser Induced Damage to CCD Imaging Devices

  

文献类型:期刊文章

作  者:邱冬冬[1,2] 张震[1] 王睿[1] 江天[1] 程湘爱[1]

机构地区:[1]国防科学技术大学光电科学与工程学院,湖南长沙410073 [2]中国卫星海上测控部远望二号测量船,江苏江阴214431

出  处:《光学学报》

年  份:2011

卷  号:31

期  号:2

起止页码:136-140

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20111413890975)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD各分层不同程度的熔融烧蚀,使暗电流和漏电流大幅增加,导致了CCD的破坏。

关 键 词:脉冲激光 CCD成像器件  破坏机理  白色亮线  黑屏

分 类 号:TN249]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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