期刊文章详细信息
NaI(Tl)晶体对面源全能峰效率刻度的点源模拟法
The Peak Efficiency Calibration of Plat Source for NaI(Tl) Detector
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中南工学院技术物理系
年 份：1999
卷 号：19
期 号：4
起止页码：311-313
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、核心刊
摘 要：介绍了用点源模拟法来刻度面源全能峰效率的方法。并将刻度结果与数值分析法的理论计算值进行了比较，两者在８％内一致。
关 键 词：典源模拟法 面源 效率刻度 探测器 闪烁晶体
分 类 号：TL812.1]
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